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Observation of the reversible H-induced structural transition in thin Y films via x-ray photoelectron diffraction

机译:X射线光电子衍射观察Y薄膜中H可逆的结构转变

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摘要

Yttrium can be loaded with hydrogen up to high concentrations causing dramatic structural and electronic changes of the host lattice. We report on the reversibility of hydrogen loading in thin single-crystalline Y films grown by vapor deposition on W(110). Under a H partial pressure of 1×10 mbar the hexagonal-closed- packed Y films convert to the face-centered-cubic Y dihydride. Unloading is accomplished by annealing the dihydride to 1000 K. No loss of crystallinity is observed during these martensitic transformations of the Y lattice. Moreover, we demonstrate a model to determine the H concentration in Y .
机译:钇可以装载高浓度的氢,从而引起主体晶格发生显着的结构和电子变化。我们报告了通过在W(110)上气相沉积生长的薄单晶Y膜中氢负载的可逆性。在1×10 mbar的H分压下,六方密堆积的Y膜转化为面心立方Y二氢化物。通过将二氢化物退火至1000 K来完成卸载。在Y晶格的这些马氏体转变过程中,未观察到结晶度损失。此外,我们展示了确定Y中H浓度的模型。

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